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X光射線無(wú)損檢測(cè)照相成像原理：
X射線利用其穿透性特點(diǎn)，對(duì)檢測(cè)物質(zhì)進(jìn)行穿透，而底下的膠片會(huì)受光影響，產(chǎn)品鹵化銀揮發(fā)反應(yīng)。在這個(gè)過(guò)程中，由于物質(zhì)密度的不同對(duì)X光射線的吸收程度也會(huì)不同，吸收的越多底部膠片對(duì)應(yīng)形成位置也會(huì)越暗。這也就是技術(shù)人員能通過(guò)膠片明暗度的不同分析檢測(cè)物是否存在不良現(xiàn)象。
隨時(shí)代的進(jìn)步，現(xiàn)如今X光射線多采用電子成像原理，利用光學(xué)感應(yīng)X光射線的強(qiáng)弱形成影像，避免了化學(xué)成像，更加利于圖像的保存。
